Tektronix - PAM4_on_RT_scope

Tektronix vince il premio DesignCon 2023 Best Paper Award

Tektronix, azienda specializzata in strumenti di test e misura, ha annunciato di aver ricevuto il premio DesignCon Best Paper Award 2023. L’azienda è stata premiata per il suo contributo agli obiettivi formativi di DesignCon, il principale evento statunitense per i progettisti di chip, schede e sistemi.

L’articolo oggetto del premio è stato scritto dai membri del team Tektronix Wenzheng (Shawn) Sun e Muhammad Saad Chughtai in collaborazione con Yongjin Choi e Chris Cheng di Hewlett Packard Enterprise (HPE). Anche Priyank Kashyap e Paul Franzon della North Carolina State University hanno collaborato alla stesura dell’articolo in qualità di co-autori. I premi Best Paper servono a riconoscere gli autori che li ricevono come professionisti di spicco nella progettazione di semiconduttori e sistemi elettronici, e questa presentazione è stata abbinata a una dimostrazione pratica presso lo stand Tektronix all’evento DesignCon.

“È un onore ricevere riconoscimenti per la tecnologia all’avanguardia di Tektronix, ma questo premio è particolarmente importante in quanto sancisce il contributo di Tektronix nel settore del test and measurement, dimostrando la generazione istantanea di diagrammi a occhio”, afferma Wenzheng (Shawn) Sun, Software Design Engineer di Tektronix. “Il nostro paper, Data-Driven PAM4 SerDes Modeling & Generative Adversarial Network, mostra un significativo passo avanti nell’innovazione da parte di Tektronix, in quanto entrambi i diagrammi a occhio elaborati erano visibilmente identici nella nostra dimostrazione. Questa ricerca è stata condotta in collaborazione con HPE e la North Carolina State University, il che ha reso questo lavoro ancora più entusiasmante e d’impatto”.

Tektronix premio - DPO70kSX_Datacom Application-175

Anche la dimostrazione pratica che ha fatto seguito alla presentazione del paper ha suscitato molto interesse. Consisteva in un setup composto da una sorgente di segnale PAM4 da 50 Gbit/s, un canale ISI variabile e un oscilloscopio della serie Tektronix DPO70000 SX, che è stato utilizzato per mostrare in tempo reale le percentuali di “loss injection”, l’acquisizione del segnale, l’equalizzazione applicata dal software e l’accumulo del diagramma a occhio utilizzando l’applicazione PAMJET. L’elaborazione di PAMJET ha richiesto meno di un minuto e il modello di apprendimento automatico ha mostrato la generazione istantanea del diagramma a occhio, una tecnica significativamente più veloce, meno onerosa e più ripetibile rispetto alle pratiche attuali. Questo lavoro si avvale di una tecnologia innovativa abbinata ad algoritmi di apprendimento automatico realizzati ad hoc e ha molte applicazioni potenziali, tra cui il miglioramento dei Data Center e il rilevamento delle anomalie dei transceiver.

Redazione Fare Elettronica